アプリシアテクノロジーでは、ウエハ処理工程(前工程)の各工程において、シリコン・ウエハの表面・ 洗浄処理ならびにCMP工程におけるCMPスラリー(研磨剤)の希釈・供給装置を取り扱っています。
出典:社団法人 日本半導体製造装置協会
| ■ウェーハ表面を酸化 | |||||
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ウェーハを高温の拡散炉(900℃~1,100℃)の中で 酸化性雰囲気にさらし、表面に酸化膜を成長させます。 |
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| ■フォトレジスト塗布 | |||||
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フォトレジストを極めて薄く均一に塗布して、 ウェーハに感光性を持たせます。
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| ■ウェーハ表面にパターン形成 | |||||
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フォトマスクを介し、 露光してマスクのパターンを焼きつけた後、現像します。 |
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| ■エッチング | |||||
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エッチングして部分的に酸化膜を除去します。 その後、不要なレジストも取り除きます。 |
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| ■酸化・拡散・CVD・イオン注入 | |||||
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ウェーハにイオンを注入(ボロン、リン)や高温拡散を行うと シリコンが出ている部分だけが半導体になります。 |
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| ■平坦化(CMP) | |||||
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ウェーハ表面を研磨し、パターンの凹凸を平坦化します。 フォトレジスト塗布から平坦化までの工程を繰り返し、 ウェーハ上にトランジスタなど必要な素子を作り込みます。 |
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| ■電極形成 | |||||
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| 不活性ガスプラズマによりアルミターゲットをスパッタリングし、 ウェーハ表面に電極配線用のアルミ金属膜を形成します。 |
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| ■ウェーハ検査 | |||||
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| ウェーハをチップごとに試験し、良品・不良品の確定をし、 不良品にはマークをつけます。 |
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2008年1月1日をもってm・FSIからアプリシアテクノロジー株式会社に社名を変更いたしました。
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